Με τη δυναμική ανάπτυξη των ηλεκτρονικών ειδών ευρείας κατανάλωσης και των ηλεκτρονικών ειδών αυτοκινήτου, το 5G έχει επίσης εγκαινιάσει μια εμπορική έκρηξη. Με την αναβάθμιση της ηλεκτρονικής τεχνολογίας και την αυξανόμενη πολυπλοκότητα των ηλεκτρονικών προϊόντων, σε συνδυασμό με το όλο και πιο σκληρό περιβάλλον χρήσης των ηλεκτρονικών προϊόντων, είναι δύσκολο για το σύστημα να διασφαλίσει ένα συγκεκριμένο χρονικό διάστημα. Η ικανότητα ή η δυνατότητα εκτέλεσης καθορισμένων λειτουργιών χωρίς αποτυχία σε ορισμένες συνθήκες. Επομένως, για να επιβεβαιωθεί ότι τα ηλεκτρονικά προϊόντα μπορούν να λειτουργούν κανονικά σε αυτά τα περιβάλλοντα, τα εθνικά πρότυπα και τα βιομηχανικά πρότυπα απαιτούν προσομοίωση ορισμένων δοκιμών.
Όπως δοκιμή κύκλου υψηλής και χαμηλής θερμοκρασίας
Η δοκιμή κύκλου υψηλής και χαμηλής θερμοκρασίας σημαίνει ότι αφού η καθορισμένη θερμοκρασία διατηρηθεί από τους -50°C για 4 ώρες, η θερμοκρασία αυξάνεται στους +90°C και στη συνέχεια η θερμοκρασία διατηρείται στους +90°C για 4 ώρες, και η θερμοκρασία μειώνεται στους -50°C, ακολουθούμενη από Ν κύκλους.
Το πρότυπο βιομηχανικής θερμοκρασίας είναι -40℃ ~ +85℃, επειδή ο θάλαμος δοκιμής κύκλου θερμοκρασίας έχει συνήθως διαφορά θερμοκρασίας. Προκειμένου να διασφαλιστεί ότι ο πελάτης δεν θα προκαλέσει ασυνεπή αποτελέσματα δοκιμών λόγω απόκλισης θερμοκρασίας, συνιστάται η χρήση του προτύπου για εσωτερικούς ελέγχους.
Κακό στη δοκιμή.
Διαδικασία δοκιμής:
1. Όταν το δείγμα απενεργοποιηθεί, πρώτα ρίξτε τη θερμοκρασία στους -50°C και διατηρήστε το για 4 ώρες. μην εκτελείτε δοκιμή χαμηλής θερμοκρασίας ενώ το δείγμα είναι ενεργοποιημένο, είναι πολύ σημαντικό, επειδή το ίδιο το τσιπ θα παραχθεί όταν το δείγμα ενεργοποιηθεί.
Ως εκ τούτου, είναι συνήθως ευκολότερο να περάσετε τη δοκιμή χαμηλής θερμοκρασίας όταν είναι ενεργοποιημένο. Πρέπει πρώτα να «παγώσει» και μετά να ενεργοποιηθεί για τη δοκιμή.
2. Ενεργοποιήστε το μηχάνημα και πραγματοποιήστε δοκιμή απόδοσης στο δείγμα για να συγκρίνετε εάν η απόδοση είναι κανονική σε σύγκριση με την κανονική θερμοκρασία.
3. Πραγματοποιήστε ένα τεστ γήρανσης για να παρατηρήσετε εάν υπάρχουν σφάλματα σύγκρισης δεδομένων.
Πρότυπο αναφοράς:
GB/T2423.1-2008 Δοκιμή Α: Μέθοδος δοκιμής χαμηλής θερμοκρασίας
GB/T2423.2-2008 Δοκιμή Β: Μέθοδος δοκιμής υψηλής θερμοκρασίας
GB/T2423.22-2002 Δοκιμή N: Μέθοδος δοκιμής αλλαγής θερμοκρασίας, κ.λπ.
Εκτός από τη δοκιμή κύκλου υψηλής και χαμηλής θερμοκρασίας, η δοκιμή αξιοπιστίας των ηλεκτρονικών προϊόντων μπορεί επίσης να είναι η δοκιμή θερμοκρασίας και υγρασίας (Δοκιμή θερμοκρασίας και υγρασίας), η δοκιμή εναλλασσόμενης υγρασίας θερμότητας (Damp Heat, Cyclic test)
(Δοκιμή αποθήκευσης χαμηλής θερμοκρασίας), δοκιμή αποθήκευσης σε υψηλή θερμοκρασία, δοκιμή θερμικού σοκ, ψεκασμός αλατιού Te
Τυχαία/ημιτονοειδές (δοκιμή κραδασμών), δοκιμή πτώσης χωρίς κουτί (δοκιμή πτώσης), δοκιμή γήρανσης ατμού (δοκιμή γήρανσης με ατμό), δοκιμή προστασίας επιπέδου IP (δοκιμή IP), δοκιμή ζωής αποσύνθεσης φωτός LED και πιστοποίηση
Μέτρηση της συντήρησης αυλού των πηγών φωτός LED) κ.λπ., σύμφωνα με τις απαιτήσεις δοκιμής προϊόντος του κατασκευαστή.
Το κιβώτιο δοκιμής κύκλου θερμοκρασίας, το κιβώτιο δοκιμής σταθερής θερμοκρασίας και υγρασίας, το κιβώτιο δοκιμής θερμικού σοκ, το κουτί δοκιμής τριών ολοκληρωμένων δοκιμών, το κιβώτιο δοκιμής ψεκασμού αλατιού κ.λπ. που αναπτύχθηκε και παράγεται από την Ruikai Instruments παρέχει λύσεις για τη δοκιμή αξιοπιστίας ηλεκτρονικών προϊόντων.
Η θερμοκρασία, η υγρασία, το θαλασσινό νερό, ο ψεκασμός αλατιού, η κρούση, οι κραδασμοί, τα κοσμικά σωματίδια, οι διάφορες ακτινοβολίες κ.λπ. στο περιβάλλον μπορούν να χρησιμοποιηθούν για τον προσδιορισμό της ισχύουσας αξιοπιστίας, του ποσοστού αστοχίας και του μέσου χρόνου μεταξύ των αστοχιών του προϊόντος εκ των προτέρων.
Ώρα δημοσίευσης: Αυγ-28-2023