家庭用電化製品や自動車用電子機器の精力的な発展に伴い、5G は商業ブームの到来ももたらしました。電子技術の高度化と電子製品の複雑化に伴い、電子製品の使用環境はますます厳しくなり、システムが一定期間を確保することが困難になっています。特定の条件下で失敗することなく、特定の機能を実行する能力または可能性。したがって、電子製品がこれらの環境で正常に動作できることを確認するために、国家規格や工業規格では一部の試験項目のシミュレーションが必要とされています。
高温・低温サイクル試験など
高温・低温サイクル試験とは、設定温度-50℃で4時間保持した後、+90℃まで昇温し、さらに+90℃で4時間保持する試験を指します。温度を -50°C に下げ、その後 N サイクルします。
温度サイクル試験室は通常温度差があるため、工業用温度標準は-40℃～+85℃です。クライアントが温度偏差により一貫性のないテスト結果を引き起こさないようにするために、内部テストには標準を使用することをお勧めします。
テストするには悪い。
テストプロセス:
1. サンプルの電源をオフにしたら、まず温度を -50°C に下げて 4 時間保持します。サンプルの電源が入っている間は低温テストを実行しないでください。サンプルの電源が入っているときにチップ自体が生成されるため、これは非常に重要です。
したがって、通常は通電した方が低温試験に合格しやすくなります。最初に「凍結」してから、テストのために通電する必要があります。
2. 機械の電源を入れ、サンプルの性能テストを実行し、常温と比較して性能が正常であるかどうかを比較します。
3. エージングテストを実行して、データ比較エラーがないかどうかを観察します。
参考規格：
GB/T2423.1-2008 試験 A: 低温試験方法
GB/T2423.2-2008 試験 B: 高温試験方法
GB/T2423.22-2002 試験N：温度変化試験方法など
電子製品の信頼性試験には、高温・低温サイクル試験のほかに、温湿度試験（Temperature And Humidity test）、交互湿熱試験（Damp Heat、Cyclic test）などがある場合があります。
(低温保管試験)、高温保管試験、熱衝撃試験、塩水噴霧試験
ランダム/正弦波（振動試験）、ボックスフリー落下試験（ドロップ試験）、蒸気老化試験（蒸気老化試験）、IPレベル保護試験（IP試験）、LED光減衰寿命試験および認証
メーカーの製品テスト要件に従って、LED 光源のルーメン維持などを測定します。
瑞海計器が開発・生産する温度サイクル試験箱、恒温恒湿試験箱、熱衝撃試験箱、三種総合試験箱、塩水噴霧試験箱などは、電子製品の信頼性試験のためのソリューションを提供します。
環境内の温度、湿度、海水、塩水噴霧、衝撃、振動、宇宙粒子、各種放射線などを利用して、製品に適用される信頼性、故障率、平均故障間隔を事前に求めることができます。
投稿日時: 2023 年 8 月 28 日