Тұрмыстық электроника мен автомобиль электроникасының қарқынды дамуымен 5G де коммерциялық бумға әкелді. Электрондық технологияның жаңаруымен және электронды өнімдердің күрделілігінің артуымен, электронды өнімдерді пайдалану ортасының қатал болуымен жүйеге белгілі бір уақыт кезеңін қамтамасыз ету қиынға соғады. Белгіленген функцияларды белгілі бір жағдайларда ақаусыз орындау мүмкіндігі немесе мүмкіндігі. Сондықтан электрондық өнімдердің осы орталарда қалыпты жұмыс істей алатынын растау үшін ұлттық стандарттар мен өнеркәсіптік стандарттар кейбір сынақ элементтерін модельдеуді талап етеді.
Жоғары және төмен температура циклінің сынағы сияқты
Жоғары және төмен температура циклінің сынағы белгіленген температураны -50 ° C-тан 4 сағат бойы ұстағаннан кейін температураны +90 ° C-қа дейін көтеруді, содан кейін температураны 4 сағат бойы + 90 ° C температурада ұстауды білдіреді және температура -50°C дейін төмендетіледі, одан кейін N цикл.
Өнеркәсіптік температура стандарты -40 ℃ ~ + 85 ℃, өйткені температура циклінің сынақ камерасында әдетте температура айырмашылығы бар. Клиент температураның ауытқуына байланысты сәйкес келмейтін сынақ нәтижелерін тудырмауын қамтамасыз ету үшін ішкі тестілеу үшін стандартты пайдалану ұсынылады.
Сынау нашар.
Сынақ процесі:
1. Үлгіні өшіргенде, алдымен температураны -50°C дейін түсіріп, 4 сағат ұстаңыз; үлгі қосулы кезде төмен температура сынамасын орындамаңыз, бұл өте маңызды, себебі үлгі қосулы кезде чиптің өзі жасалады.
Сондықтан, әдетте, қуат берілген кезде төмен температура сынағынан өту оңайырақ. Ол алдымен «мұздатылған», содан кейін сынақ үшін қуаттандырылуы керек.
2. Құрылғыны қосыңыз және қалыпты температурамен салыстырғанда өнімділіктің қалыпты екенін салыстыру үшін үлгіде өнімділік сынағын орындаңыз.
3. Деректерді салыстыру қателерінің бар-жоғын бақылау үшін қартаю сынамасын орындаңыз.
Анықтамалық стандарт:
GB/T2423.1-2008 A сынағы: Төмен температурадағы сынақ әдісі
GB/T2423.2-2008 B сынағы: Жоғары температурадағы сынақ әдісі
GB/T2423.22-2002 сынақ N: Температураның өзгеруін тексеру әдісі және т.б.
Жоғары және төмен температуралық цикл сынағымен қатар, электронды өнімдердің сенімділік сынағы температура мен ылғалдылық сынағы (Температура және Ылғалдылық сынағы), ауыспалы ылғалдылық сынағы (Ылғалды жылу, Циклдік сынақ) болуы мүмкін.
(Төмен температурада сақтау сынағы), Жоғары температурада сақтау сынағы, Термиялық соққы сынағы, Тұз спрейі
Кездейсоқ/синус (діріл сынағы), қорапсыз түсу сынағы (тамшылау сынағы), бумен қартаю сынағы (будың қартаю сынағы), IP деңгейін қорғау сынағы (IP сынағы), жарық диодты шамның қызмет ету мерзімін тексеру және сертификаттау
Өндірушінің өнімді сынау талаптарына сәйкес жарық диодты жарық көздерінің люменін өлшеу) және т.б.
Ruikai Instruments әзірлеген және шығарған температура циклінің сынақ қорабы, тұрақты температура мен ылғалдылық сынағы қорабы, термиялық соққы сынағы қорабы, үш кешенді сынақ қорабы, тұзды спрей сынағы және т.б. электрондық өнімдердің сенімділігін тексеру үшін шешімдерді ұсынады.
Қоршаған ортадағы температура, ылғалдылық, теңіз суы, тұзды спрей, соққы, діріл, ғарыштық бөлшектер, әртүрлі радиация және т.б. қолданылатын сенімділікті, істен шығу жылдамдығын және өнімнің істен шығуы арасындағы орташа уақытты алдын ала анықтау үшін пайдаланылуы мүмкін.
Жіберу уақыты: 28 тамыз 2023 ж