Турмуш-тиричилик электроникасынын жана автомобиль электроникасынын күчтүү өнүгүшү менен 5G да коммерциялык бумга алып келди. Электрондук технологияларды жаңыртуу жана электрондук продуктулардын татаалдашуусу менен бирге, электрондук өнүмдөрдүн барган сайын катаал колдонуу чөйрөсү менен системанын белгилүү бир мезгилди камсыз кылуу кыйынга турат. Белгиленген функцияларды белгилүү шарттарда үзгүлтүксүз аткаруу мүмкүнчүлүгү же мүмкүнчүлүгү. Ошондуктан, электрондук өнүмдөр бул чөйрөдө нормалдуу иштей аларын ырастоо үчүн, улуттук стандарттар жана өнөр жай стандарттары кээ бир тесттик тапшырмаларды симуляциялоону талап кылат.
Мындай жогорку жана төмөнкү температура цикл сыноо
Жогорку жана төмөнкү температура циклинин сыноосу белгиленген температураны -50°Cден 4 саатка чейин сактагандан кийин температураны +90°Сге чейин көтөрүүнү, андан кийин температураны +90°C 4 саат бою кармап турууну билдирет, ал эми температура -50°С чейин төмөндөтүлөт, андан кийин N цикл.
Өнөр жай температурасынын стандарты -40 ℃ ~ + 85 ℃, анткени температура циклинин сыноо камерасында адатта температура айырмасы бар. Температуранын четтөөсүнөн улам кардар тестирлөөнүн натыйжалары шайкеш келбегендигин камсыз кылуу үчүн ички тестирлөө үчүн стандартты колдонуу сунушталат.
Сыноо үчүн жаман.
Сыноо процесси:
1. Үлгү өчүк болгондо, адегенде температураны -50°Cге түшүрүп, 4 саатка сактаңыз; үлгү күйгүзүлүп турганда төмөн температурадагы тестирлөө жүргүзбөңүз, бул абдан маанилүү, анткени чиптин өзү үлгү күйгүзүлгөндө өндүрүлөт.
Ошондуктан, ал кубатталганда, адатта, төмөнкү температура сынагынан өтүү оңой. Ал адегенде "тоңдурулган", анан сыноо үчүн кубатталган болушу керек.
2. Аппаратты күйгүзүңүз жана үлгүдөгү өндүрүмдүүлүктүн нормалдуу температурага салыштырмалуу нормалдуу экендигин салыштыруу үчүн иштөө сынагын жүргүзүңүз.
3. Маалыматтарды салыштыруу каталары бар-жоктугуна байкоо жүргүзүү үчүн картаюу тестин өткөрүңүз.
Шилтеме стандарты:
GB / T2423.1-2008 Test A: Төмөн температура сыноо ыкмасы
GB / T2423.2-2008 Test B: Жогорку температура сыноо ыкмасы
GB / T2423.22-2002 Test N: Температураны өзгөртүү сыноо ыкмасы, ж.б.
Жогорку жана төмөнкү температуралык цикл сынагынан тышкары, электрондук өнүмдөрдүн ишенимдүүлүгүн текшерүү температура жана нымдуулук тести (Температура жана Нымдуулук тести), алмашып турган нымдуу жылуулук сыноо (Ным жылуулук, Циклдик тест) болушу мүмкүн.
(Төмөн температурада сактоо сынагы), Жогорку температурада сактоо сыноосу, Термикалык шок сыноосу, Туз спрейи
Кокус/синус (Тилтирөө тести), кутучаны бекер түшүрүү тести (Тамчылоо тести), буу менен картаюу тести (Steam Aging тести), IP деңгээлин коргоо тести (IP Test), LED жарыктын ажыроо сыноосу жана сертификаттоо
Өндүрүүчүнүн продуктуну сыноо талаптарына ылайык, LED жарык булактарынын люмендик тейлөөнү өлчөө) ж.б.
Ruikai Instruments тарабынан иштелип чыккан жана өндүрүлгөн температуралык цикл тест кутусу, туруктуу температура жана нымдуулук сыноо кутучасы, термикалык шок сыноо кутучасы, үч комплекстүү сыноо кутучасы, туз брызги тест кутусу, ж.б. электрондук өнүмдөрдүн ишенимдүүлүгүн текшерүү үчүн чечимдерди камсыз кылат.
Температура, нымдуулук, деңиз суусу, туз чачуу, таасир, титирөө, космостук бөлүкчөлөр, ар кандай радиация ж.
Посттун убактысы: 28-август-2023