Mat der kräfteger Entwécklung vu Konsumentelektronik an Automobilelektronik huet 5G och e kommerziellen Opschwong agefouert. Mat der Upgrade vun elektronescher Technologie an der ëmmer méi Komplexitéit vun elektronesche Produkter, gekoppelt mat der ëmmer méi haart Notzungsëmfeld vun elektronesche Produkter, ass et schwéier fir de System eng gewëssen Zäit ze garantéieren. D'Kapazitéit oder d'Méiglechkeet fir spezifizéiert Funktiounen ouni Feeler a bestëmmte Konditiounen auszeféieren. Dofir, fir ze bestätegen datt elektronesch Produkter normalerweis an dësen Ëmfeld funktionéiere kënnen, erfuerderen national Standarden an industriell Standarden Simulatioun vun e puer Testartikelen.
Wéi héich an niddreg Temperatur Zyklus Test
Den Zyklustest mat héijen an niddregen Temperaturen bedeit datt no der festgeluechter Temperatur vun -50°C fir 4 Stonnen gehale gëtt, d'Temperatur op +90°C erhéicht gëtt, an dann ass d'Temperatur 4 Stonnen op +90°C gehalen, an d'Temperatur gëtt op -50°C erofgesat, gefollegt vun N-Zyklen.
Den industriellen Temperaturnorm ass -40 ℃ ~ +85 ℃, well d'Temperaturzyklus Testkammer normalerweis en Temperaturdifferenz huet. Fir sécherzestellen datt de Client keng inkonsistent Testresultater wéinst Temperaturdeviatioun verursaacht, ass et recommandéiert de Standard fir intern Tester ze benotzen.
Schlecht ze testen.
Test Prozess:
1. Wann d'Probe ausgeschalt ass, fällt d'Temperatur fir d'éischt op -50 ° C erof a hält se fir 4 Stonnen; Leeschtung net niddereg Temperatur Tester iwwerdeems d'Probe ugedriwwen ass, et ass ganz wichteg, well den Chip selwer gëtt produzéiert wann d'Probe ugedriwwen ass.
Dofir ass et normalerweis méi einfach den Tieftemperaturtest ze passéieren wann et energesch ass. Et muss als éischt "gefruer" ginn, an dann fir den Test energesch ginn.
2. Maacht d'Maschinn un a maacht d'Performancetest op der Probe fir ze vergläichen ob d'Performance normal ass am Verglach mat normaler Temperatur.
3. Maacht en Alterungstest fir ze beobachten ob et Datenvergläichungsfehler gëtt.
Referenz Standard:
GB / T2423.1-2008 Test A: Niddereg Temperatur Test Method
GB / T2423.2-2008 Test B: Héich Temperatur Test Method
GB/T2423.22-2002 Test N: Temperatur änneren Test Method, etc.
Zousätzlech zum Zyklustest fir héich an niddreg Temperaturen, kann den Zouverlässegkeetstest vun elektronesche Produkter och den Temperatur- a Fiichtegkeetstest sinn (Temperatur- a Fiichtegkeetstest), den alternéierende feuchte Hëtzttest (Damp Heat, Cyclic Test)
(Niddereg Temperatur Stockage Test), Héich Temperatur Stockage Test, Thermal Schock Test, Salz Spraydousen Te
Zoufälleg/Sinus (Vibratiounstest), Box-Free Drop Test (Drop Test), Dampferalterungstest (Steam Aging Test), IP Niveau Schutz Test (IP Test), LED Luucht Zerfall Liewen Test an Zertifizéierung
Miessung Lumen Ënnerhalt vun LED Liichtquellen), etc., no den Hiersteller d'Produkt Test Ufuerderunge.
D'Temperatur Zyklus Test Këscht, konstant Temperatur an Fiichtegkeet Test Këscht, thermesch Schock Test Këscht, dräi ëmfaassend Test Këscht, Salz Spraydousen Test Këscht, etc.
D'Temperatur, d'Feuchtigkeit, d'Mierwaasser, d'Salzspray, d'Auswierkunge, d'Vibrationen, d'kosmesch Partikelen, d'Verschidde Stralung, asw.
Post Zäit: Aug-28-2023