သတင်း

Thermal Shock Test ကို အပူချိန် ရှော့ခ်စစ်ဆေးခြင်း သို့မဟုတ် အပူချိန် စက်ဘီးစီးခြင်း၊ အပူချိန် မြင့်မားခြင်းနှင့် အနိမ့်ပိုင်း အပူရှိန် ရှော့ခ်စစ်ဆေးခြင်းဟု မကြာခဏ ရည်ညွှန်းသည်။

အပူ/အအေးနှုန်းသည် 30 ℃/မိနစ်ထက် မနည်းပါ။

အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုအကွာအဝေးသည် အလွန်ကြီးမားပြီး အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုနှုန်း တိုးလာသည်နှင့်အမျှ စမ်းသပ်မှုပြင်းထန်မှု တိုးလာသည်။

temperature shock test နှင့် temperature cycle test အကြားခြားနားချက်မှာ အဓိကအားဖြင့် မတူညီသော stress load ယန္တရားဖြစ်သည်။

အပူချိန် ရှော့တိုက်ခြင်း စစ်ဆေးမှုသည် တွားသွားခြင်းနှင့် ပင်ပန်းနွမ်းနယ်မှု ပျက်စီးခြင်းတို့ကြောင့် ချို့ယွင်းမှုကို အဓိကအားဖြင့် စစ်ဆေးပြီး အပူချိန်စက်ဝန်းသည် ရှပ်ကျခြင်းကြောင့် ဖြစ်ရသည့် ပင်ပန်းနွမ်းနယ်မှုကို အဓိကအားဖြင့် စစ်ဆေးသည်။

အပူချိန် ရှော့ခ်စစ်ဆေးမှုသည် two-slot စမ်းသပ်ကိရိယာကို အသုံးပြုခွင့်ပေးသည်၊ အပူချိန်စက်ဝန်းစမ်းသပ်မှုသည် single-slot စမ်းသပ်ကိရိယာကိုအသုံးပြုသည်။ အပေါက်နှစ်ပေါက်တွင်၊ အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုနှုန်းသည် 50 ℃/မိနစ်ထက် ပိုနေရပါမည်။
အပူချိန်ရှော့ခ်ဖြစ်ရသည့် အကြောင်းရင်း- ထုတ်လုပ်မှုနှင့် ပြုပြင်မှုလုပ်ငန်းစဉ်များအတွင်း ပြင်းထန်သော အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုများဖြစ်သည့် ဂဟေဆော်ခြင်း၊ အခြောက်ခံခြင်း၊ ပြန်လည်လုပ်ဆောင်ခြင်းနှင့် ပြုပြင်ခြင်းများ။

GJB 150.5A-2009 3.1 အရ၊ အပူချိန် shock သည် စက်ကိရိယာ၏ ပတ်ဝန်းကျင်အပူချိန်တွင် သိသိသာသာပြောင်းလဲမှုဖြစ်ပြီး အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုနှုန်းသည် 10 ဒီဂရီ/မိနစ်ထက် ပိုများသည်။ MIL-STD-810F 503.4 (2001) သည် အလားတူ မြင်ကွင်းကို ရရှိထားသည်။

သက်ဆိုင်ရာ စံနှုန်းများတွင် ဖော်ပြထားသည့် အပူချိန် ပြောင်းလဲခြင်းအတွက် အကြောင်းရင်းများစွာ ရှိပါသည်။
GB/T 2423.22-2012 ပတ်ဝန်းကျင်စမ်းသပ်ခြင်း အပိုင်း 2 စမ်းသပ်ခြင်း N- အပူချိန် ပြောင်းလဲခြင်း
အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုများအတွက် အကွက်အခြေအနေများ-
အီလက်ထရွန်းနစ်ပစ္စည်းကိရိယာများနှင့် အစိတ်အပိုင်းများတွင် အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုသည် အဖြစ်များသည်။ စက်ပစ္စည်းကို ပါဝါမဖွင့်သောအခါ၊ ၎င်း၏အတွင်းပိုင်း အစိတ်အပိုင်းများသည် ၎င်း၏အပြင်ဘက်မျက်နှာပြင်ရှိ အစိတ်အပိုင်းများထက် အပူချိန်ပြောင်းလဲမှု ပိုမိုနှေးကွေးသည်။

အောက်ပါအခြေအနေများတွင် လျင်မြန်သော အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုများကို မျှော်လင့်နိုင်သည်-
1. စက်ပစ္စည်းများကို ပူနွေးသောအတွင်းပိုင်းပတ်ဝန်းကျင်မှ အေးသောပြင်ပပတ်ဝန်းကျင်သို့ လွှဲပြောင်းသည့်အခါ သို့မဟုတ် အပြန်အလှန်အားဖြင့်၊
2. စက်ပစ္စည်းကို မိုးရေနှင့်ထိတွေ့သောအခါ သို့မဟုတ် ရေအေးတွင် နှစ်မြှုပ်ပြီး ရုတ်တရက် အေးသွားသောအခါ၊
3. ပြင်ပလေကြောင်းဆိုင်ရာပစ္စည်းများတွင် တပ်ဆင်ပါ။
4. အချို့သောသယ်ယူပို့ဆောင်ရေးနှင့် သိုလှောင်မှုအခြေအနေအောက်တွင်။

ပါဝါအသုံးပြုပြီးနောက်၊ စက်ပစ္စည်းများတွင် မြင့်မားသော အပူချိန် gradient များကို ထုတ်ပေးပါမည်။ အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုကြောင့် အစိတ်အပိုင်းများကို ဖိစီးလာမည်ဖြစ်သည်။ ဥပမာအားဖြင့်၊ ပါဝါမြင့်သော ခုခံမှုကိရိယာ၏ဘေးတွင်၊ ဓာတ်ရောင်ခြည်သည် ကပ်လျက်အစိတ်အပိုင်းများ၏ မျက်နှာပြင်အပူချိန်ကို မြင့်တက်စေပြီး အခြားအစိတ်အပိုင်းများ အေးနေချိန်တွင်ဖြစ်သည်။
အအေးပေးစနစ်ကို ပါဝါဖွင့်ထားသောအခါ၊ အတုအယောင်ဖြင့် အအေးခံထားသော အစိတ်အပိုင်းများသည် အပူချိန် အပြောင်းအလဲမြန်ခြင်းကို ခံစားရလိမ့်မည်။ စက်ပစ္စည်း၏ ထုတ်လုပ်မှု လုပ်ငန်းစဉ်အတွင်း အစိတ်အပိုင်းများ၏ အပူချိန် လျင်မြန်စွာ ပြောင်းလဲမှုများလည်း ဖြစ်ပေါ်နိုင်သည်။ အပူချိန်ပြောင်းလဲမှု၏ အရေအတွက်နှင့် ပြင်းအားနှင့် အချိန်ကြားကာလသည် အရေးကြီးပါသည်။

GJB 150.5A-2009 စစ်ဘက်သုံးပစ္စည်းများ ဓာတ်ခွဲခန်း ပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ စမ်းသပ်မှု နည်းလမ်းများ အပိုင်း 5-Temperature Shock Test:
3.2 လျှောက်လွှာ-
3.2.1 ပုံမှန်ပတ်ဝန်းကျင်-
ဤစမ်းသပ်မှုသည် လေအပူချိန် လျင်မြန်စွာ ပြောင်းလဲနိုင်သော နေရာများတွင် အသုံးပြုနိုင်သည့် စက်ပစ္စည်းများနှင့် သက်ဆိုင်ပါသည်။ ဤစမ်းသပ်မှုသည် စက်ကိရိယာ၏ ပြင်ပမျက်နှာပြင်၊ ပြင်ပမျက်နှာပြင်တွင် တပ်ဆင်ထားသော အစိတ်အပိုင်းများ သို့မဟုတ် ပြင်ပမျက်နှာပြင်အနီးတွင် တပ်ဆင်ထားသော အတွင်းပိုင်းအစိတ်အပိုင်းများ သို့မဟုတ် ပြင်ပမျက်နှာပြင်အနီးတွင် တပ်ဆင်ထားသော အတွင်းပိုင်းအစိတ်အပိုင်းများအပေါ် လျင်မြန်သောအပူချိန်ပြောင်းလဲမှုများ၏ သက်ရောက်မှုများကို အကဲဖြတ်ရန်အတွက်သာ ဤစမ်းသပ်မှုကို အသုံးပြုပါသည်။ သာမန်အခြေအနေများမှာ အောက်ပါအတိုင်းဖြစ်သည်။
က) စက်ပစ္စည်းများကို ပူသောဒေသများနှင့် အပူချိန်နိမ့်သောပတ်ဝန်းကျင်များကြားတွင် လွှဲပြောင်းပေးသည်။
ခ) စွမ်းဆောင်ရည်မြင့်မားသော သယ်ဆောင်သူဖြင့် ၎င်းကို မြေပြင်မှ မြင့်မားသော အပူချိန် ပတ်ဝန်းကျင်မှ အမြင့်ပေ (ပူမှ အေးသည်) သို့ သယ်ဆောင်သည်။
ဂ) ပြင်ပပစ္စည်းများ (ထုပ်ပိုးခြင်း သို့မဟုတ် စက်ကိရိယာ မျက်နှာပြင်ပစ္စည်းများ) ကိုသာ စမ်းသပ်သောအခါ၊ ၎င်းကို အမြင့်ပေနှင့် အပူချိန်နိမ့်သော အခြေအနေအောက်တွင် ပူသော လေယာဉ်အကာအကွယ်ခွံမှ ပြုတ်ကျသည်။

3.2.2 ဘေးကင်းရေးနှင့် ပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ ဖိစီးမှု စစ်ဆေးခြင်း-
3.3 တွင်ဖော်ပြထားသည့်အရာအပြင်၊ ဤစစ်ဆေးမှုသည် စက်ကိရိယာအား အပူချိန်လွန်ကဲသောအပူချိန်ထက်နိမ့်သော အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုနှုန်းနှင့် ထိတွေ့သောအခါတွင် ဖြစ်လေ့ရှိသည့် ဘေးကင်းရေးပြဿနာများနှင့် ဖြစ်နိုင်ခြေရှိသောချို့ယွင်းချက်များကို ညွှန်ပြရန် ဤစစ်ဆေးမှုသည် အသုံးပြုနိုင်ပါသည် (စမ်းသပ်မှုအခြေအနေများသည် ဒီဇိုင်းထက်မကျော်လွန်သရွေ့၊ စက်ကိရိယာကန့်သတ်ချက်။) ဤစမ်းသပ်မှုကို ပတ်ဝန်းကျင်စိတ်ဖိစီးမှုစစ်ဆေးခြင်း (ESS) အဖြစ် အသုံးပြုသော်လည်း၊ သင့်လျော်သော အင်ဂျင်နီယာဆိုင်ရာ ကုသမှုခံယူပြီးနောက် သင့်လျော်သော အင်ဂျင်နီယာဆိုင်ရာ ကုသမှုခံယူပြီးနောက် စစ်ဆေးမှုတစ်ခု (စမ်းသပ်မှုတစ်ခုအဖြစ်လည်း အသုံးပြုနိုင်သည်။ ပြင်းထန်သောအပူချိန်ထက်နိမ့်။
အပူချိန်ရှော့ခ်၏အကျိုးသက်ရောက်မှုများ- GJB 150.5A-2009 စစ်ဘက်ဆိုင်ရာပစ္စည်းများဓာတ်ခွဲခန်းပတ်ဝန်းကျင်စမ်းသပ်မှုနည်းလမ်း အပိုင်း 5- အပူချိန် Shock Test-

4.1.2 ပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ သက်ရောက်မှုများ-
Temperature shock သည် စက်ပစ္စည်း၏ အပြင်ဘက်မျက်နှာပြင်နှင့် နီးကပ်သော အစိတ်အပိုင်းအပေါ် ပိုမိုပြင်းထန်သော သက်ရောက်မှုရှိသည်။ အပြင်မျက်နှာပြင်နှင့် ဝေးသည် (ဟုတ်ပါတယ်၊ ၎င်းသည် သက်ဆိုင်ရာ ပစ္စည်းများ၏ လက္ခဏာများနှင့် သက်ဆိုင်သည်)၊ အပူချိန် ပြောင်းလဲမှု နှေးကွေးပြီး အကျိုးသက်ရောက်မှု နည်းပါးလေ ဖြစ်သည်။ သယ်ယူပို့ဆောင်ရေးသေတ္တာများ၊ ထုပ်ပိုးမှုစသည်ဖြင့် အလုံပိတ်ပစ္စည်းများအပေါ် အပူချိန်ရှော့တိုက်ခြင်း၏ သက်ရောက်မှုကို လျှော့ချပေးမည်ဖြစ်သည်။ လျင်မြန်သော အပူချိန်ပြောင်းလဲမှုများသည် စက်၏လည်ပတ်မှုကို ယာယီ သို့မဟုတ် အပြီးအပိုင် ထိခိုက်စေနိုင်သည်။ အောက်ဖော်ပြပါများသည် စက်ကိရိယာများ အပူချိန် ရှော့ခ်တိုက်သည့် ပတ်ဝန်းကျင်နှင့် ထိတွေ့သောအခါ ဖြစ်ပေါ်လာနိုင်သည့် ပြဿနာများ၏ ဥပမာများဖြစ်သည်။ အောက်ဖော်ပြပါ ပုံမှန်ပြဿနာများကို ထည့်သွင်းစဉ်းစားခြင်းဖြင့် ဤစမ်းသပ်မှုသည် စမ်းသပ်မှုအောက်ရှိ စက်ကိရိယာများအတွက် သင့်လျော်မှုရှိမရှိ ဆုံးဖြတ်ရန် ကူညီပေးပါမည်။

က) ပုံမှန်ရုပ်ပိုင်းဆိုင်ရာသက်ရောက်မှုများမှာ-
1) ဖန်ဘူးများနှင့် အလင်းတူရိယာများ ကွဲအက်ခြင်း၊
2) ရွေ့လျားနေသော အစိတ်အပိုင်းများ ပိတ်နေခြင်း၊
3) ပေါက်ကွဲစေတတ်သော ပစ္စည်းများတွင် အစိုင်အခဲ အလုံးများ သို့မဟုတ် ကော်လံများတွင် အက်ကွဲခြင်း၊
4) ကွဲပြားခြားနားသောကျုံ့ခြင်း သို့မဟုတ် ချဲ့ထွင်မှုနှုန်းများ သို့မဟုတ် မတူညီသောပစ္စည်းများ၏ တွန်းအားဖြစ်စေသော ပြင်းထန်မှုနှုန်း၊
5) အစိတ်အပိုင်းများ ပုံပျက်ခြင်း သို့မဟုတ် ကွဲအက်ခြင်း၊
6) မျက်နှာပြင်အပေါ်ယံပိုင်းကွဲအက်ခြင်း;
7) အလုံပိတ်အခန်းများတွင် ယိုစိမ့်ခြင်း၊
8) insulation ကာကွယ်မှု ပျက်ကွက်ခြင်း။

ခ) ပုံမှန်ဓာတုဆိုးကျိုးများမှာ-
1) အစိတ်အပိုင်းများခွဲခြား;
2) ဓာတုဓာတ်ပစ္စည်းများ အကာအကွယ် ပျက်ကွက်ခြင်း။

ဂ) ပုံမှန်လျှပ်စစ်သက်ရောက်မှုများမှာ-
1) လျှပ်စစ်နှင့် အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများ ပြောင်းလဲခြင်း၊
2) ရေ သို့မဟုတ် နှင်းခဲများသည် အီလက်ထရွန်းနစ် သို့မဟုတ် စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ ချို့ယွင်းမှုကို ဖြစ်စေသော လျင်မြန်စွာ ငွေ့ရည်ဖွဲ့ခြင်း၊
၃) ငြိမ်လျှပ်စစ်ဓာတ်လွန်ကဲခြင်း။

အပူချိန် ရှော့ခ်စမ်းသပ်ခြင်း၏ ရည်ရွယ်ချက်- အင်ဂျင်နီယာ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်မှု အဆင့်အတွင်း ထုတ်ကုန်ဒီဇိုင်းနှင့် လုပ်ငန်းစဉ် ချို့ယွင်းချက်များကို ရှာဖွေတွေ့ရှိရန် ၎င်းကို အသုံးပြုနိုင်သည်။ ထုတ်ကုန် အပြီးသတ်ခြင်း သို့မဟုတ် ဒီဇိုင်းဖော်ထုတ်ခြင်းနှင့် အစုလိုက်အပြုံလိုက် ထုတ်လုပ်မှုအဆင့်များအတွင်း ထုတ်ကုန်များ၏ အပူချိန်တုန်လှုပ်မှုပတ်ဝန်းကျင်များသို့ လိုက်လျောညီထွေဖြစ်နိုင်မှုကို အတည်ပြုရန် အသုံးပြုနိုင်ပြီး ဒီဇိုင်း အပြီးသတ်ခြင်းနှင့် အစုလိုက်အပြုံလိုက် ထုတ်လုပ်မှုလက်ခံခြင်းဆိုင်ရာ ဆုံးဖြတ်ချက်များအတွက် အခြေခံကို ပံ့ပိုးပေးနိုင်သည်။ သဘာဝပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာ ဖိစီးမှုစစ်ဆေးခြင်းအဖြစ် အသုံးပြုသည့်အခါ ရည်ရွယ်ချက်မှာ အစောပိုင်းထုတ်ကုန်ကျရှုံးမှုများကို ဖယ်ရှားပစ်ရန်ဖြစ်သည်။

IEC နှင့် နိုင်ငံတော် စံနှုန်းများ အရ အပူချိန် ပြောင်းလဲခြင်း စမ်းသပ်ခြင်း အမျိုးအစားများကို သုံးမျိုး ခွဲခြားထားသည်။
1. စမ်းသပ်ခြင်း- သတ်မှတ်ထားသော ပြောင်းလဲချိန်တစ်ခုဖြင့် လျင်မြန်သော အပူချိန်ပြောင်းလဲမှု။ လေထု;
2. စမ်းသပ်ခြင်း Nb- သတ်မှတ်ထားသော ပြောင်းလဲမှုနှုန်းဖြင့် အပူချိန်ပြောင်းလဲမှု။ လေထု;
3. စမ်းသပ်ခြင်း Nc- အရည်ကန်နှစ်ခုဖြင့် လျင်မြန်သော အပူချိန်ပြောင်းလဲမှု။ အရည်;

အထက်ဖော်ပြပါ စမ်းသပ်မှု သုံးခုအတွက်၊ 1 နှင့် 2 သည် လေကို ကြားခံအဖြစ် အသုံးပြုကာ တတိယအကြိမ်တွင် အရည် (ရေ သို့မဟုတ် အခြားသော အရည်) ကို ကြားခံအဖြစ် အသုံးပြုပါသည်။ 1 နှင့် 2 ၏ ပြောင်းလဲချိန်သည် ပိုရှည်ပြီး 3 ၏ ပြောင်းလဲချိန်သည် ပိုတိုပါသည်။