လူသုံးအီလက်ထရွန်းနစ်နှင့် မော်တော်ယာဥ်အီလက်ထရွန်နစ်ပစ္စည်းများ အရှိန်အဟုန်ပြင်းစွာ ဖွံ့ဖြိုးတိုးတက်လာမှုနှင့်အတူ 5G သည်လည်း စီးပွားဖြစ် ထွန်းကားလာခဲ့သည်။ အီလက်ထရွန်းနစ်နည်းပညာကို အဆင့်မြှင့်တင်ခြင်းနှင့် အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ ရှုပ်ထွေးမှုများ တိုးလာခြင်းနှင့် အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ ပြင်းထန်သောအသုံးပြုမှုပတ်ဝန်းကျင်နှင့်အတူ၊ အချိန်ကာလတစ်ခုသေချာစေရန် စနစ်အတွက် ခက်ခဲသည်။ အချို့သောအခြေအနေများအတွင်း မအောင်မြင်ဘဲ သတ်မှတ်ထားသောလုပ်ဆောင်ချက်များကို လုပ်ဆောင်နိုင်မှု သို့မဟုတ် ဖြစ်နိုင်ခြေ။ ထို့ကြောင့်၊ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များသည် ဤပတ်ဝန်းကျင်တွင် ပုံမှန်အလုပ်လုပ်နိုင်သည်ကို အတည်ပြုရန်အတွက် အမျိုးသားစံနှုန်းများနှင့် စက်မှုစံနှုန်းအချို့ကို စမ်းသပ်သည့်အရာများကို သရုပ်ဖော်ရန် လိုအပ်ပါသည်။
အပူချိန် မြင့်မားခြင်း နှင့် နိမ့်ခြင်း ကဲ့သို့သော စက်ဝန်း စမ်းသပ်ခြင်း
အပူချိန် မြင့်မားခြင်းနှင့် အနိမ့်ပိုင်း စမ်းသပ်ခြင်းဆိုသည်မှာ သတ်မှတ်အပူချိန်ကို -50°C မှ 4 နာရီကြာ ထားရှိပြီးနောက် အပူချိန်ကို +90°C သို့ မြှင့်တင်ပြီးနောက် အပူချိန်ကို +90°C တွင် 4 နာရီကြာ ထားရှိရန်၊ အပူချိန် -50 ဒီဂရီစင်တီဂရိတ်သို့ ကျဆင်းသွားပြီး N လည်ပတ်မှုနောက်တွင်။
စက်မှုအပူချိန်စံနှုန်းသည် -40 ℃ ~ + 85 ဒီဂရီစင်တီဂရိတ်ဖြစ်သည်၊ အဘယ်ကြောင့်ဆိုသော်အပူချိန်စက်ဝန်းစမ်းသပ်ခန်းသည်ပုံမှန်အားဖြင့်အပူချိန်ကွာခြားချက်ရှိသောကြောင့်ဖြစ်သည်။ အပူချိန်သွေဖည်မှုကြောင့် ဖောက်သည်သည် တသမတ်တည်းမဟုတ်သော စမ်းသပ်မှုရလဒ်များကို မဖြစ်ပေါ်စေရန် သေချာစေရန်၊ အတွင်းပိုင်းစစ်ဆေးမှုအတွက် စံနှုန်းကို အသုံးပြုရန် အကြံပြုအပ်ပါသည်။
စမ်းကြည့်တာ မကောင်းဘူး။
စမ်းသပ်မှုလုပ်ငန်းစဉ်-
1. နမူနာအား ပါဝါပိတ်သောအခါ၊ ပထမဦးစွာ အပူချိန်ကို -50°C သို့ ချလိုက်ပြီး 4 နာရီကြာ သိမ်းဆည်းထားရန်။ နမူနာကို ပါဝါဖွင့်ထားစဉ်တွင် အပူချိန်နိမ့်သော စမ်းသပ်ခြင်း မလုပ်ဆောင်ပါနှင့်၊ နမူနာကို ပါဝါဖွင့်ထားသည့်အခါ ချစ်ပ်ကိုယ်တိုင် ထုတ်လုပ်မည်ဖြစ်သောကြောင့် အလွန်အရေးကြီးပါသည်။
ထို့ကြောင့်၊ ၎င်းအား အားဖြည့်သောအခါတွင် နိမ့်သောအပူချိန်စမ်းသပ်မှုကို ကျော်ဖြတ်ရန် ပိုမိုလွယ်ကူသည်။ ၎င်းကို ဦးစွာ "အေးခဲ" ထားရမည်ဖြစ်ပြီး၊ ထို့နောက် စမ်းသပ်မှုအတွက် အားဖြည့်ပေးရပါမည်။
2. စက်ကိုဖွင့်ပြီး ပုံမှန်အပူချိန်နှင့် နှိုင်းယှဉ်ပါက စွမ်းဆောင်ရည် ပုံမှန်ဟုတ်မဟုတ် နှိုင်းယှဉ်ရန်အတွက် နမူနာပေါ်တွင် စွမ်းဆောင်ရည်စမ်းသပ်မှုကို လုပ်ဆောင်ပါ။
3. ဒေတာနှိုင်းယှဉ်မှု အမှားအယွင်းများ ရှိမရှိ စောင့်ကြည့်ရန် အသက်အရွယ်ကြီးရင့်မှု စမ်းသပ်မှု ပြုလုပ်ပါ။
ကိုးကားစံ-
GB/T2423.1-2008 စမ်းသပ်မှု A- အပူချိန်နည်းသော စမ်းသပ်နည်း
GB/T2423.2-2008 စမ်းသပ် B- မြင့်မားသော အပူချိန် စမ်းသပ်နည်း
GB/T2423.22-2002 Test N- အပူချိန်ပြောင်းလဲမှု စမ်းသပ်နည်း၊ စသည်တို့။
အပူချိန်မြင့်မားခြင်းနှင့် အနိမ့်ပိုင်း လည်ပတ်စမ်းသပ်ခြင်းအပြင်၊ အီလက်ထရွန်းနစ်ထုတ်ကုန်များ၏ ယုံကြည်စိတ်ချရမှုစမ်းသပ်မှုသည် အပူချိန်နှင့် စိုထိုင်းဆစမ်းသပ်မှု (Temperature And Humidity test)၊ လျှို့ဝှက်စိုစွတ်သော အပူစမ်းသပ်မှု (Damp Heat၊ Cyclic test) လည်း ဖြစ်နိုင်သည်။
(Low Temperature Storage test)၊ High Temperature Storage test၊ Thermal shock test၊ Salt Spray Te
ကျပန်း/sine (တုန်ခါမှုစမ်းသပ်မှု)၊ အကွက်လွတ်စမ်းသပ်မှု (Drop test)၊ ရေနွေးငွေ့အိုမင်းခြင်းစမ်းသပ်မှု (Steam Aging test)၊ IP အဆင့်ကာကွယ်မှုစမ်းသပ်မှု (IP Test)၊ LED အလင်းပျက်စီးခြင်းဆိုင်ရာ စမ်းသပ်မှုနှင့် အသိအမှတ်ပြုလက်မှတ်
LED Light Sources များ၏ Lumen ထိန်းသိမ်းမှုကို တိုင်းတာခြင်း) စသည်တို့ကို ထုတ်လုပ်သူ၏ ထုတ်ကုန်စမ်းသပ်မှု လိုအပ်ချက်များအရ သိရသည်။
အပူချိန်စက်ဝန်းစမ်းသပ်ပုံး၊ အဆက်မပြတ် အပူချိန်နှင့် စိုထိုင်းဆ စမ်းသပ်ပုံး၊ အပူလှိုင်းစမ်းသပ်ပုံး၊ ပြည့်စုံသော စမ်းသပ်သေတ္တာ ၃ လုံး၊ ဆားမှုတ်စမ်းသပ်ပုံး စသည်တို့သည် Ruikai တူရိယာများဖြင့် တီထွင်ထုတ်လုပ်ထားသော အီလက်ထရွန်နစ် ထုတ်ကုန်များ၏ ယုံကြည်စိတ်ချရမှု စမ်းသပ်မှုအတွက် အဖြေများကို ပံ့ပိုးပေးပါသည်။
အပူချိန်၊ စိုထိုင်းဆ၊ ပင်လယ်ရေ၊ ဆားမှုန်ရေမွှား၊ ထိခိုက်မှု၊ တုန်ခါမှု၊ အာကာသဓာတ်အမှုန်အမွှားများ၊ အမျိုးမျိုးသော ဓာတ်ရောင်ခြည်များ စသည်ဖြင့် ပတ်ဝန်းကျင်ရှိ သက်ဆိုင်ရာ ယုံကြည်စိတ်ချရမှု၊ ချို့ယွင်းမှုနှုန်းနှင့် ထုတ်ကုန်၏ မအောင်မြင်မှုများကြား ပျမ်းမျှအချိန်ကို ဆုံးဖြတ်ရန် အသုံးပြုနိုင်သည်။
တင်ချိန်- သြဂုတ်-၂၈-၂၀၂၃