परीक्षण मापदण्डहरू र तापक्रम र आर्द्रता चक्र कक्षको प्राविधिक संकेतकहरू:
आर्द्रता चक्र बक्स इलेक्ट्रोनिक कम्पोनेन्टहरूको सुरक्षा प्रदर्शन परीक्षण, विश्वसनीयता परीक्षण, उत्पादन स्क्रीनिंग परीक्षण, आदि प्रदान गर्न उपयुक्त छ। एकै समयमा, यस परीक्षण मार्फत, उत्पादनको विश्वसनीयता सुधार गरिन्छ र उत्पादनको गुणस्तर नियन्त्रण गरिन्छ। तापक्रम र आर्द्रता चक्र बाकस उड्डयन, अटोमोबाइल, घरेलु उपकरण, वैज्ञानिक अनुसन्धान, इत्यादिको क्षेत्रमा एक आवश्यक परीक्षण उपकरण हो। यसले विद्युतीय, इलेक्ट्रोनिक, अर्धचालक, सञ्चार, अप्टोइलेक्ट्रोनिक्स, विद्युतीय उपकरण, मोटर वाहनको मापदण्ड र कार्यसम्पादनको मूल्याङ्कन र निर्धारण गर्दछ। उच्च र कम तापक्रम र आर्द्रताको समयमा तापक्रम वातावरण द्रुत रूपमा परिवर्तन भएपछि विद्युतीय उपकरण, सामग्री र अन्य उत्पादनहरू परीक्षणहरू, र प्रयोगको अनुकूलन क्षमता।
यो स्कूल, कारखाना, सैन्य उद्योग, अनुसन्धान र विकास र अन्य एकाइहरूको लागि उपयुक्त छ।
परीक्षण मापदण्डहरू पूरा गर्नुहोस्:
GB/T2423.1-2008 परीक्षण A: कम तापक्रम (आंशिक)।
GB/T2423.2-2008 परीक्षण B: उच्च तापक्रम (आंशिक)।
GB/T2423.3-2008 टेस्ट क्याब: स्थिर नम ताप।
GB/T2423.4-2006 परीक्षण Db: वैकल्पिक ओसिलो ताप।
GB/T2423.34-2005 परीक्षण Z/AD: तापमान र आर्द्रता संयोजन।
GB/T2424.2-2005 नम ताप परीक्षण गाइड।
GB/T2423.22-2002 परीक्षण N: तापक्रम परिवर्तन।
IEC60068-2-78 टेस्ट क्याब: स्थिर अवस्था, नम गर्मी।
GJB150.3-2009 उच्चतापमान परीक्षण.
GJB150.4-2009 कम तापमान परीक्षण।
GJB150.9-2009 नम ताप परीक्षण।
पोस्ट समय: सेप्टेम्बर-18-2024