• page_banner01

ਖ਼ਬਰਾਂ

ਤਾਪਮਾਨ ਚੱਕਰ ਟੈਸਟ ਬਾਕਸ - ਵਾਤਾਵਰਣ ਅਨੁਕੂਲਤਾ ਵਿੱਚ ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਉਤਪਾਦਾਂ ਨੂੰ ਵਧੇਰੇ ਭਰੋਸੇਮੰਦ ਬਣਾਉਂਦਾ ਹੈ

ਖਪਤਕਾਰ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨਿਕਸ ਅਤੇ ਆਟੋਮੋਟਿਵ ਇਲੈਕਟ੍ਰੋਨਿਕਸ ਦੇ ਜ਼ੋਰਦਾਰ ਵਿਕਾਸ ਦੇ ਨਾਲ, 5G ਨੇ ਵੀ ਇੱਕ ਵਪਾਰਕ ਬੂਮ ਦੀ ਸ਼ੁਰੂਆਤ ਕੀਤੀ ਹੈ। ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਟੈਕਨਾਲੋਜੀ ਦੇ ਅਪਗ੍ਰੇਡ ਅਤੇ ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਉਤਪਾਦਾਂ ਦੀ ਵਧਦੀ ਗੁੰਝਲਤਾ ਦੇ ਨਾਲ, ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਉਤਪਾਦਾਂ ਦੀ ਵੱਧ ਰਹੀ ਕਠੋਰ ਵਰਤੋਂ ਵਾਲੇ ਵਾਤਾਵਰਣ ਦੇ ਨਾਲ, ਸਿਸਟਮ ਲਈ ਇੱਕ ਨਿਸ਼ਚਤ ਸਮੇਂ ਨੂੰ ਯਕੀਨੀ ਬਣਾਉਣਾ ਮੁਸ਼ਕਲ ਹੈ। ਕੁਝ ਸ਼ਰਤਾਂ ਦੇ ਅੰਦਰ ਅਸਫਲਤਾ ਦੇ ਬਿਨਾਂ ਵਿਸ਼ੇਸ਼ ਕਾਰਜ ਕਰਨ ਦੀ ਯੋਗਤਾ ਜਾਂ ਸੰਭਾਵਨਾ। ਇਸ ਲਈ, ਇਹ ਪੁਸ਼ਟੀ ਕਰਨ ਲਈ ਕਿ ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਉਤਪਾਦ ਇਹਨਾਂ ਵਾਤਾਵਰਣਾਂ ਵਿੱਚ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਕੰਮ ਕਰ ਸਕਦੇ ਹਨ, ਰਾਸ਼ਟਰੀ ਮਾਪਦੰਡਾਂ ਅਤੇ ਉਦਯੋਗਿਕ ਮਿਆਰਾਂ ਲਈ ਕੁਝ ਟੈਸਟ ਆਈਟਮਾਂ ਦੀ ਸਿਮੂਲੇਸ਼ਨ ਦੀ ਲੋੜ ਹੁੰਦੀ ਹੈ।

dytr (13)

ਜਿਵੇਂ ਕਿ ਉੱਚ ਅਤੇ ਘੱਟ ਤਾਪਮਾਨ ਚੱਕਰ ਟੈਸਟ

dytr (14)
dytr (15)

ਉੱਚ ਅਤੇ ਘੱਟ ਤਾਪਮਾਨ ਚੱਕਰ ਟੈਸਟ ਦਾ ਮਤਲਬ ਹੈ ਕਿ ਸੈੱਟ ਤਾਪਮਾਨ ਨੂੰ -50 ਡਿਗਰੀ ਸੈਲਸੀਅਸ ਤੋਂ 4 ਘੰਟਿਆਂ ਲਈ ਰੱਖਣ ਤੋਂ ਬਾਅਦ, ਤਾਪਮਾਨ ਨੂੰ +90 ਡਿਗਰੀ ਸੈਲਸੀਅਸ ਤੱਕ ਵਧਾ ਦਿੱਤਾ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਫਿਰ ਤਾਪਮਾਨ ਨੂੰ 4 ਘੰਟਿਆਂ ਲਈ +90 ਡਿਗਰੀ ਸੈਲਸੀਅਸ 'ਤੇ ਰੱਖਿਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਤਾਪਮਾਨ ਨੂੰ -50 ਡਿਗਰੀ ਸੈਲਸੀਅਸ ਤੱਕ ਘਟਾਇਆ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਇਸਦੇ ਬਾਅਦ N ਚੱਕਰ ਆਉਂਦੇ ਹਨ।

ਉਦਯੋਗਿਕ ਤਾਪਮਾਨ ਦਾ ਮਿਆਰ -40 ℃ ~ +85 ℃ ਹੈ, ਕਿਉਂਕਿ ਤਾਪਮਾਨ ਚੱਕਰ ਟੈਸਟ ਚੈਂਬਰ ਵਿੱਚ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਤਾਪਮਾਨ ਦਾ ਅੰਤਰ ਹੁੰਦਾ ਹੈ। ਇਹ ਸੁਨਿਸ਼ਚਿਤ ਕਰਨ ਲਈ ਕਿ ਗਾਹਕ ਤਾਪਮਾਨ ਦੇ ਵਿਵਹਾਰ ਦੇ ਕਾਰਨ ਅਸੰਗਤ ਟੈਸਟ ਦੇ ਨਤੀਜਿਆਂ ਦਾ ਕਾਰਨ ਨਹੀਂ ਬਣੇਗਾ, ਅੰਦਰੂਨੀ ਜਾਂਚ ਲਈ ਸਟੈਂਡਰਡ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਕਰਨ ਦੀ ਸਿਫਾਰਸ਼ ਕੀਤੀ ਜਾਂਦੀ ਹੈ।

ਟੈਸਟ ਕਰਨ ਲਈ ਮਾੜਾ.

ਟੈਸਟ ਪ੍ਰਕਿਰਿਆ:

1. ਜਦੋਂ ਨਮੂਨਾ ਬੰਦ ਹੋ ਜਾਂਦਾ ਹੈ, ਤਾਂ ਪਹਿਲਾਂ ਤਾਪਮਾਨ ਨੂੰ -50 ਡਿਗਰੀ ਸੈਲਸੀਅਸ ਤੱਕ ਸੁੱਟੋ ਅਤੇ ਇਸਨੂੰ 4 ਘੰਟਿਆਂ ਲਈ ਰੱਖੋ; ਜਦੋਂ ਨਮੂਨਾ ਚਾਲੂ ਹੁੰਦਾ ਹੈ ਤਾਂ ਘੱਟ ਤਾਪਮਾਨ ਦੀ ਜਾਂਚ ਨਾ ਕਰੋ, ਇਹ ਬਹੁਤ ਮਹੱਤਵਪੂਰਨ ਹੈ, ਕਿਉਂਕਿ ਨਮੂਨਾ ਚਾਲੂ ਹੋਣ 'ਤੇ ਚਿੱਪ ਆਪਣੇ ਆਪ ਪੈਦਾ ਹੋ ਜਾਵੇਗੀ।

ਇਸ ਲਈ, ਜਦੋਂ ਇਹ ਊਰਜਾਵਾਨ ਹੁੰਦਾ ਹੈ ਤਾਂ ਘੱਟ ਤਾਪਮਾਨ ਦੇ ਟੈਸਟ ਨੂੰ ਪਾਸ ਕਰਨਾ ਆਮ ਤੌਰ 'ਤੇ ਆਸਾਨ ਹੁੰਦਾ ਹੈ। ਇਹ ਪਹਿਲਾਂ "ਫ੍ਰੀਜ਼" ਹੋਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ, ਅਤੇ ਫਿਰ ਟੈਸਟ ਲਈ ਊਰਜਾਵਾਨ ਹੋਣਾ ਚਾਹੀਦਾ ਹੈ।

2. ਮਸ਼ੀਨ ਨੂੰ ਚਾਲੂ ਕਰੋ ਅਤੇ ਨਮੂਨੇ 'ਤੇ ਪ੍ਰਦਰਸ਼ਨ ਟੈਸਟ ਕਰੋ ਇਹ ਤੁਲਨਾ ਕਰਨ ਲਈ ਕਿ ਕੀ ਕਾਰਗੁਜ਼ਾਰੀ ਆਮ ਤਾਪਮਾਨ ਦੇ ਮੁਕਾਬਲੇ ਆਮ ਹੈ।

3. ਇਹ ਦੇਖਣ ਲਈ ਕਿ ਕੀ ਡੇਟਾ ਦੀ ਤੁਲਨਾ ਵਿੱਚ ਤਰੁੱਟੀਆਂ ਹਨ, ਇੱਕ ਬੁਢਾਪਾ ਟੈਸਟ ਕਰੋ।

ਹਵਾਲਾ ਮਿਆਰ:

GB/T2423.1-2008 ਟੈਸਟ A: ਘੱਟ ਤਾਪਮਾਨ ਟੈਸਟ ਵਿਧੀ

GB/T2423.2-2008 ਟੈਸਟ B: ਉੱਚ ਤਾਪਮਾਨ ਟੈਸਟ ਵਿਧੀ

GB/T2423.22-2002 ਟੈਸਟ N: ਤਾਪਮਾਨ ਤਬਦੀਲੀ ਟੈਸਟ ਵਿਧੀ, ਆਦਿ।

ਉੱਚ ਅਤੇ ਘੱਟ ਤਾਪਮਾਨ ਦੇ ਚੱਕਰ ਟੈਸਟ ਤੋਂ ਇਲਾਵਾ, ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਉਤਪਾਦਾਂ ਦੀ ਭਰੋਸੇਯੋਗਤਾ ਟੈਸਟ ਤਾਪਮਾਨ ਅਤੇ ਨਮੀ ਟੈਸਟ (ਤਾਪਮਾਨ ਅਤੇ ਨਮੀ ਟੈਸਟ), ਵਿਕਲਪਕ ਡੈਂਪ ਹੀਟ ਟੈਸਟ (ਡੈਂਪ ਹੀਟ, ਸਾਈਕਲਿਕ ਟੈਸਟ) ਵੀ ਹੋ ਸਕਦਾ ਹੈ।

(ਘੱਟ ਤਾਪਮਾਨ ਸਟੋਰੇਜ਼ ਟੈਸਟ), ਉੱਚ ਤਾਪਮਾਨ ਸਟੋਰੇਜ਼ ਟੈਸਟ, ਥਰਮਲ ਸਦਮਾ ਟੈਸਟ, ਸਾਲਟ ਸਪਰੇਅ ਟੀ.

ਰੈਂਡਮ/ਸਾਈਨ (ਵਾਈਬ੍ਰੇਸ਼ਨ ਟੈਸਟ), ਬਾਕਸ ਫ੍ਰੀ ਡਰਾਪ ਟੈਸਟ (ਡ੍ਰੌਪ ਟੈਸਟ), ਸਟੀਮ ਏਜਿੰਗ ਟੈਸਟ (ਸਟੀਮ ਏਜਿੰਗ ਟੈਸਟ), ਆਈਪੀ ਲੈਵਲ ਪ੍ਰੋਟੈਕਸ਼ਨ ਟੈਸਟ (ਆਈਪੀ ਟੈਸਟ), ਐਲਈਡੀ ਲਾਈਟ ਡਿਕੇ ਲਾਈਫ ਟੈਸਟ ਅਤੇ ਸਰਟੀਫਿਕੇਸ਼ਨ

LED ਰੋਸ਼ਨੀ ਸਰੋਤਾਂ ਦੇ ਲੂਮੇਨ ਮੇਨਟੇਨੈਂਸ ਨੂੰ ਮਾਪਣਾ), ਆਦਿ, ਨਿਰਮਾਤਾ ਦੀਆਂ ਉਤਪਾਦ ਜਾਂਚ ਲੋੜਾਂ ਦੇ ਅਨੁਸਾਰ।

ਰੁਇਕਾਈ ਇੰਸਟਰੂਮੈਂਟਸ ਦੁਆਰਾ ਵਿਕਸਤ ਅਤੇ ਤਿਆਰ ਕੀਤੇ ਤਾਪਮਾਨ ਚੱਕਰ ਟੈਸਟ ਬਾਕਸ, ਨਿਰੰਤਰ ਤਾਪਮਾਨ ਅਤੇ ਨਮੀ ਟੈਸਟ ਬਾਕਸ, ਥਰਮਲ ਸਦਮਾ ਟੈਸਟ ਬਾਕਸ, ਤਿੰਨ ਵਿਆਪਕ ਟੈਸਟ ਬਾਕਸ, ਨਮਕ ਸਪਰੇਅ ਟੈਸਟ ਬਾਕਸ, ਆਦਿ ਇਲੈਕਟ੍ਰਾਨਿਕ ਉਤਪਾਦਾਂ ਦੀ ਭਰੋਸੇਯੋਗਤਾ ਟੈਸਟ ਲਈ ਹੱਲ ਪ੍ਰਦਾਨ ਕਰਦੇ ਹਨ।

ਵਾਤਾਵਰਣ ਵਿੱਚ ਤਾਪਮਾਨ, ਨਮੀ, ਸਮੁੰਦਰ ਦਾ ਪਾਣੀ, ਲੂਣ ਸਪਰੇਅ, ਪ੍ਰਭਾਵ, ਵਾਈਬ੍ਰੇਸ਼ਨ, ਬ੍ਰਹਿਮੰਡੀ ਕਣ, ਵੱਖ-ਵੱਖ ਰੇਡੀਏਸ਼ਨ, ਆਦਿ ਦੀ ਵਰਤੋਂ ਉਤਪਾਦ ਦੀਆਂ ਅਸਫਲਤਾਵਾਂ ਦੇ ਵਿਚਕਾਰ ਲਾਗੂ ਭਰੋਸੇਯੋਗਤਾ, ਅਸਫਲਤਾ ਦਰ, ਅਤੇ ਮੱਧਮਾਨ ਸਮਾਂ ਨਿਰਧਾਰਤ ਕਰਨ ਲਈ ਕੀਤੀ ਜਾ ਸਕਦੀ ਹੈ।


ਪੋਸਟ ਟਾਈਮ: ਅਗਸਤ-28-2023