ข่าว

การทดสอบวงจรอุณหภูมิสูงและต่ำหมายความว่าหลังจากเก็บอุณหภูมิที่ตั้งไว้ไว้ที่ -50°C เป็นเวลา 4 ชั่วโมง อุณหภูมิจะเพิ่มขึ้นเป็น +90°C จากนั้นอุณหภูมิจะคงอยู่ที่ +90°C เป็นเวลา 4 ชั่วโมง และ อุณหภูมิจะลดลงเหลือ -50°C ตามด้วย N รอบ

มาตรฐานอุณหภูมิอุตสาหกรรมคือ -40°C ~ +85°C เนื่องจากห้องทดสอบวงจรอุณหภูมิมักจะมีความแตกต่างของอุณหภูมิ เพื่อให้แน่ใจว่าลูกค้าจะไม่ทำให้เกิดผลการทดสอบที่ไม่สอดคล้องกันเนื่องจากการเบี่ยงเบนของอุณหภูมิ ขอแนะนำให้ใช้มาตรฐานสำหรับการทดสอบภายใน

ไม่ดีที่จะทดสอบ

กระบวนการทดสอบ:

1. เมื่อปิดตัวอย่างแล้ว ให้ลดอุณหภูมิลงที่ -50°C ก่อน และเก็บไว้เป็นเวลา 4 ชั่วโมง อย่าทำการทดสอบที่อุณหภูมิต่ำในขณะที่ตัวอย่างเปิดอยู่ ซึ่งเป็นสิ่งสำคัญมาก เนื่องจากชิปจะถูกสร้างขึ้นเองเมื่อเปิดตัวอย่าง

ดังนั้นจึงมักจะง่ายกว่าที่จะผ่านการทดสอบอุณหภูมิต่ำเมื่อมีพลังงาน จะต้อง "แช่แข็ง" ก่อน จากนั้นจึงเติมพลังงานสำหรับการทดสอบ

2. เปิดเครื่องและทำการทดสอบประสิทธิภาพของตัวอย่างเพื่อเปรียบเทียบว่าประสิทธิภาพเป็นปกติเมื่อเทียบกับอุณหภูมิปกติหรือไม่

3. ดำเนินการทดสอบอายุเพื่อดูว่ามีข้อผิดพลาดในการเปรียบเทียบข้อมูลหรือไม่

มาตรฐานอ้างอิง:

GB/T2423.1-2008 การทดสอบ A: วิธีทดสอบที่อุณหภูมิต่ำ

GB/T2423.2-2008 การทดสอบ B: วิธีทดสอบที่อุณหภูมิสูง

GB/T2423.22-2002 การทดสอบ N: วิธีทดสอบการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิ ฯลฯ

นอกจากการทดสอบวงจรอุณหภูมิสูงและต่ำแล้ว การทดสอบความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์อาจเป็นการทดสอบอุณหภูมิและความชื้น (การทดสอบอุณหภูมิและความชื้น) การทดสอบความร้อนชื้นสลับ (Damp Heat, Cyclic test)

(การทดสอบการเก็บที่อุณหภูมิต่ำ), การทดสอบการเก็บรักษาที่อุณหภูมิสูง, การทดสอบการกระแทกด้วยความร้อน, สเปรย์เกลือ Te

สุ่ม/ไซน์ (การทดสอบการสั่นสะเทือน), การทดสอบการตกกระแทกแบบไร้กล่อง (การทดสอบการตก), การทดสอบอายุของไอน้ำ (การทดสอบ Steam Aging), การทดสอบการป้องกันระดับ IP (การทดสอบ IP), การทดสอบอายุการเสื่อมของแสง LED และการรับรอง

การวัดการบำรุงรักษาลูเมนของแหล่งกำเนิดแสง LED) ฯลฯ ตามข้อกำหนดในการทดสอบผลิตภัณฑ์ของผู้ผลิต

กล่องทดสอบวงจรอุณหภูมิ, กล่องทดสอบอุณหภูมิและความชื้นคงที่, กล่องทดสอบแรงกระแทกจากความร้อน, กล่องทดสอบที่ครอบคลุมสามกล่อง, กล่องทดสอบสเปรย์เกลือ ฯลฯ พัฒนาและผลิตโดย Ruikai Instruments นำเสนอโซลูชั่นสำหรับการทดสอบความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์อิเล็กทรอนิกส์

อุณหภูมิ ความชื้น น้ำทะเล สเปรย์เกลือ แรงกระแทก การสั่นสะเทือน อนุภาคคอสมิก การแผ่รังสีต่างๆ ฯลฯ ในสภาพแวดล้อมสามารถใช้เพื่อกำหนดความน่าเชื่อถือ อัตราความล้มเหลว และเวลาเฉลี่ยระหว่างความล้มเหลวของผลิตภัณฑ์ล่วงหน้าได้