נייַעס

טערמאַל קלאַפּ טעסטינג איז אָפט ריפערד צו ווי טעמפּעראַטור קלאַפּ טעסטינג אָדער טעמפּעראַטור סייקלינג, הויך און נידעריק טעמפּעראַטור טערמאַל קלאַפּ טעסטינג.

די באַהיצונג / קאָאָלינג קורס איז נישט ווייניקער ווי 30 ℃ / מינוט.

די טעמפּעראַטור טוישן קייט איז זייער גרויס, און די שטרענגקייַט פון די פּרובירן ינקריסיז מיט די פאַרגרעסערן פון די טעמפּעראַטור טוישן קורס.

דער חילוק צווישן די טעמפּעראַטור קלאַפּ פּרובירן און די טעמפּעראַטור ציקל פּרובירן איז דער הויפּט די פאַרשידענע דרוק מאַסע מעקאַניזאַם.

די טעמפּעראַטור קלאַפּ פּרובירן דער הויפּט יגזאַמאַנז די דורכפאַל געפֿירט דורך קריכן און מידקייַט שעדיקן, בשעת די טעמפּעראַטור ציקל דער הויפּט יגזאַמאַנז די דורכפאַל געפֿירט דורך שערן מידקייַט.

די טעמפּעראַטור קלאַפּ פּרובירן אַלאַוז די נוצן פון אַ צוויי-שפּעלטל פּרובירן מיטל; די טעמפּעראַטור ציקל פּרובירן ניצט אַ איין-שפּעלטל פּרובירן מיטל. אין די צוויי-שפּעלטל קעסטל, די טעמפּעראַטור טוישן קורס מוזן זיין העכער ווי 50 ℃ / מינוט.
סיבות פון טעמפּעראַטור קלאַפּ: דראַסטיק טעמפּעראַטור ענדערונגען בעשאַס מאַנופאַקטורינג און פאַרריכטן פּראַסעסאַז אַזאַ ווי ריפלאָו סאַדערינג, דריינג, ריפּראַסעסינג און פאַרריכטן.

לויט GJB 150.5A-2009 3.1, טעמפּעראַטור קלאַפּ איז אַ שאַרף ענדערונג אין די אַמביאַנט טעמפּעראַטור פון די ויסריכט, און די טעמפּעראַטור טוישן קורס איז גרעסער ווי 10 דיגריז / מין, וואָס איז טעמפּעראַטור קלאַפּ. MIL-STD-810F 503.4 (2001) האלט אַ ענלעך מיינונג.

עס זענען פילע סיבות פֿאַר טעמפּעראַטור ענדערונגען, וואָס זענען דערמאנט אין באַטייַטיק סטאַנדאַרדס:
GB/T 2423.22-2012 ענוויראָנמענטאַל טעסטינג טייל 2 טעסט ען: טעמפּעראַטור טוישן
פעלד טנאָים פֿאַר טעמפּעראַטור ענדערונגען:
טעמפּעראַטור ענדערונגען זענען פּראָסט אין עלעקטראָניש ויסריכט און קאַמפּאָונאַנץ. ווען די עקוויפּמענט איז נישט פּאַוערד אויף, זייַן ינערלעך פּאַרץ דערפאַרונג סלאָוער טעמפּעראַטור ענדערונגען ווי די טיילן אויף זייַן ויסווייניקסט ייבערפלאַך.

גיך טעמפּעראַטור ענדערונגען קענען זיין דערוואַרט אין די פאלגענדע סיטואַטיאָנס:
1. ווען די ויסריכט איז טראַנספערד פון אַ וואַרעם דרינענדיק סוויווע צו אַ קאַלט דרויסנדיק סוויווע, אָדער וויצע ווערסאַ;
2. ווען די עקוויפּמענט איז יקספּאָוזד צו רעגן אָדער געטובלט אין קאַלט וואַסער און פּלוצלינג קיל אַראָפּ;
3. אינסטאַלירן אין פונדרויסנדיק אַירבאָרן עקוויפּמענט;
4. אונטער זיכער טראַנספּערטיישאַן און סטאָרידזש טנאָים.

נאָך מאַכט איז געווענדט, הויך טעמפּעראַטור גראַדיאַנץ וועט זיין דזשענערייטאַד אין די עקוויפּמענט. רעכט צו טעמפּעראַטור ענדערונגען, קאַמפּאָונאַנץ וועט זיין סטרעסט. פֿאַר בייַשפּיל, ווייַטער צו אַ הויך-מאַכט רעסיסטאָר, ראַדיאַציע וועט פאַרשאַפן די ייבערפלאַך טעמפּעראַטור פון שכייניש קאַמפּאָונאַנץ צו העכערונג, בשעת אנדערע טיילן בלייַבן קאַלט.
ווען די קאָאָלינג סיסטעם איז פּאַוערד אויף, אַרטאַפישאַלי קולד קאַמפּאָונאַנץ וועט דערפאַרונג גיך טעמפּעראַטור ענדערונגען. גיך טעמפּעראַטור ענדערונגען פון קאַמפּאָונאַנץ קענען אויך זיין געפֿירט בעשאַס די מאַנופאַקטורינג פּראָצעס פון די עקוויפּמענט. די נומער און מאַגנאַטוד פון טעמפּעראַטור ענדערונגען און די צייט מעהאַלעך זענען וויכטיק.

GJB 150.5A-2009 מיליטער עקוויפּמענט לאַבאָראַטאָרי ינווייראַנמענאַל טעסט מעטהאָדס טייל 5:טעמפּעראַטור שאַק טעסט:
3.2 אַפּלאַקיישאַן:
3.2.1 נאָרמאַל סוויווע:
דער פּראָבע איז אָנווענדלעך צו ויסריכט וואָס קען זיין געוויינט אין ערטער ווו די לופט טעמפּעראַטור קען געשווינד טוישן. דער פּראָבע איז בלויז געניצט צו אָפּשאַצן די יפעקץ פון גיך טעמפּעראַטור ענדערונגען אויף די פונדרויסנדיק ייבערפלאַך פון די עקוויפּמענט, פּאַרץ מאָונטעד אויף די פונדרויסנדיק ייבערפלאַך אָדער ינערלעך פּאַרץ אינסטאַלירן לעבן די פונדרויסנדיק ייבערפלאַך. טיפּיש סיטואַטיאָנס זענען ווי גייט:
א) די ויסריכט איז טראַנספערד צווישן הייס געביטן און נידעריק טעמפּעראַטור ינווייראַנמאַנץ;
ב) עס איז אויפגעהויבן פון דער ערד הויך טעמפּעראַטור סוויווע צו הויך הייך (נאָר הייס צו קאַלט) דורך אַ הויך-פאָרשטעלונג טרעגער;
C) ווען טעסטינג בלויז פונדרויסנדיק מאַטעריאַלס (פּאַקקאַגינג אָדער ויסריכט ייבערפלאַך מאַטעריאַלס), עס איז דראַפּט פון די הייס ערקראַפט פּראַטעקטיוו שאָל אונטער הויך הייך און נידעריק טעמפּעראַטור טנאָים.

3.2.2 זיכערהייט און ינווייראַנמענאַל דרוק זיפּונג:
אין אַדישאַן צו וואָס איז דיסקרייבד אין 3.3, די פּראָבע איז אָנווענדלעך צו אָנווייַזן זיכערקייַט ישוז און פּאָטענציעל חסרונות וואָס יוזשאַוואַלי פאַלן ווען די ויסריכט איז יקספּאָוזד צו אַ טעמפּעראַטור ענדערונג קורס נידעריקער ווי די עקסטרעם טעמפּעראַטור (אַז לאַנג ווי די פּראָבע טנאָים טאָן ניט יקסיד די פּלאַן שיעור פון די ויסריכט). כאָטש דער פּראָבע איז גענוצט ווי אַן ינווייראַנמענאַל דרוק זיפּונג (ESS), עס קענען אויך זיין געוויינט ווי אַ זיפּונג פּראָבע (ניצן טעמפּעראַטור שאַקס פון מער עקסטרעם טעמפּעראַטורעס) נאָך צונעמען ינזשעניעריע באַהאַנדלונג צו אַנטדעקן פּאָטענציעל חסרונות וואָס קען פּאַסירן ווען די ויסריכט איז יקספּאָוזד צו טנאָים נידעריקער ווי די עקסטרעם טעמפּעראַטור.
יפעקץ פון טעמפּעראַטור קלאַפּ: GJB 150.5A-2009 מיליטער עקוויפּמענט לאַבאָראַטאָרי ינווייראַנמענאַל טעסט מעטאַד טייל 5: טעמפּעראַטור שאַק טעסט:

4.1.2 ענוויראָנמענטאַל עפעקטן:
טעמפּעראַטור שאָק יוזשאַוואַלי האט אַ מער ערנסט ווירקונג אויף די טייל נאָענט צו די ויסווייניקסט ייבערפלאַך פון די עקוויפּמענט. דער ווייַטער אַוועק פון די ויסווייניקסט ייבערפלאַך (פון קורס, עס איז שייך צו די קעראַקטעריסטיקס פון די באַטייַטיק מאַטעריאַלס), די סלאָוער די טעמפּעראַטור טוישן און די ווייניקער קלאָר ווי דער טאָג די ווירקונג. אַריבערפירן באָקסעס, פּאַקקאַגינג, אאז"ו ו וועט אויך רעדוצירן די פּראַל פון טעמפּעראַטור קלאַפּ אויף ענקלאָוזד ויסריכט. גיך טעמפּעראַטור ענדערונגען קען טעמפּערעראַלי אָדער פּערמאַנאַנטלי ווירקן די אָפּעראַציע פון ​​די עקוויפּמענט. די פאלגענדע זענען ביישפילן פון פראבלעמען וואָס קען אויפשטיין ווען ויסריכט איז יקספּאָוזד צו אַ טעמפּעראַטור קלאַפּ סוויווע. קאַנסידערינג די פאלגענדע טיפּיש פּראָבלעמס וועט העלפֿן באַשטימען צי די פּראָבע איז פּאַסיק פֿאַר די ויסריכט אונטער פּרובירן.

א) טיפּיש פיזיש יפעקץ זענען:
1) שאַטערינג פון גלאז קאַנטיינערז און אָפּטיש ינסטראַמאַנץ;
2) סטאַק אָדער פרייַ מאָווינג טיילן;
3) קראַקס אין האַרט פּעלאַץ אָדער שפאלטן אין יקספּלאָוסיווז;
4) פאַרשידענע שרינגקידזש אָדער יקספּאַנשאַן רייץ, אָדער ינדוסט שפּאַנונג רייץ פון פאַרשידענע מאַטעריאַלס;
5) דעפאָרמאַטיאָן אָדער בראָך פון טיילן;
6) קראַקינג פון ייבערפלאַך קאָוטינגז;
7) ליקאַדזש אין געחתמעט קאַבינס;
8) דורכפאַל פון ינסאַליישאַן שוץ.

ב) טיפּיש כעמישער ווירקונג זענען:
1) צעשיידונג פון קאַמפּאָונאַנץ;
2) דורכפאַל פון כעמישער רייידזשאַנט שוץ.

C) טיפּיש עלעקטריקאַל יפעקץ זענען:
1) ענדערונגען אין עלעקטריקאַל און עלעקטראָניש קאַמפּאָונאַנץ;
2) גיך קאַנדאַנסיישאַן פון וואַסער אָדער פראָסט קאָזינג עלעקטראָניש אָדער מעטשאַניקאַל פייליערז;
3) יבעריק סטאַטיק עלעקטרע.

ציל פון טעמפּעראַטור קלאַפּ פּרובירן: עס קענען זיין געניצט צו אַנטדעקן פּראָדוקט פּלאַן און פּראָצעס חסרונות בעשאַס די ינזשעניעריע אַנטוויקלונג בינע; עס קענען זיין גענוצט צו באַשטעטיקן די אַדאַפּטאַבילאַטי פון פּראָדוקטן צו טעמפּעראַטור קלאַפּ ינווייראַנמאַנץ בעשאַס פּראָדוקט פיינאַליזיישאַן אָדער פּלאַן לעגיטימאַציע און מאַסע פּראָדוקציע סטאַגעס, און צושטעלן אַ יקער פֿאַר פּלאַן פינאַליזיישאַן און מאַסע פּראָדוקציע אַקסעפּטאַנס דיסיזשאַנז; ווען געניצט ווי ינווייראַנמענאַל דרוק זיפּונג, דער ציל איז צו עלימינירן פרי פּראָדוקט פייליערז.

די טייפּס פון טעמפּעראַטור טוישן טעסץ זענען צעטיילט אין דריי טייפּס לויט IEC און נאציאנאלע סטאַנדאַרדס:
1. טעסט נאַ: גיך טעמפּעראַטור טוישן מיט אַ ספּעסיפיעד קאַנווערזשאַן צייַט; לופט;
2. טעסט נב: טעמפּעראַטור טוישן מיט אַ ספּעסיפיעד טוישן קורס; לופט;
3. טעסט נק: גיך טעמפּעראַטור טוישן מיט צוויי פליסיק טאַנגקס; פליסיק;

פֿאַר די אויבן דריי טעסץ, 1 און 2 נוצן לופט ווי די מיטל, און די דריט ניצט פליסיק (וואַסער אָדער אנדערע ליקווידס) ווי די מיטל. די קאַנווערזשאַן צייט פון 1 און 2 איז מער, און די קאַנווערזשאַן צייט פון 3 איז קירצער.